產(chǎn)品搜索 Search

產(chǎn)品目錄 Product catalog

二手電鏡SEM+EDX

產(chǎn)品展示首頁 > 產(chǎn)品展示 > 二手電鏡SEM+EDX > 二手電鏡，二手場發(fā)射電鏡 > 二手蔡司場發(fā)射電鏡

產(chǎn)品名稱：二手蔡司場發(fā)射電鏡

產(chǎn)品型號：

更新時間：2024-11-20

產(chǎn)品特點：二手蔡司場發(fā)射電鏡：具有出色的探測效率，能夠輕松地實現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，*高的表面細節(jié)信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、工業(yè)實驗室或是顯微成像平臺中**各種類型樣品在微觀世界中清晰、真實的圖像，提供靈活、可靠的場發(fā)射掃描電子顯微鏡技術和方案。

產(chǎn)品詳細資料：

二手蔡司場發(fā)射電鏡系列產(chǎn)品

用于高品質(zhì)成像與高級分析的場發(fā)射掃描電子顯微鏡

靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能

將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。

性價比高，裝配有背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

用于清晰成像的靈活探測

利用先進探測術為您的需求定制 Sigma，表征所有樣品。
利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探測器，獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和可變壓力探測器，在低真空環(huán)境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

自動化加速工作流程

4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中，從快速成像和節(jié)省培訓首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。
首先，先對樣品進行導航，然后設置成像條件。
接下來對樣品感興趣的區(qū)域進行優(yōu)化并自動采集圖像。最后使用工作流程的最后一步，將結果可視化。

高級分析型顯微鏡

將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合：背散射幾何探測器大大提升了分析性能，特別是對電子束敏感的樣品。
在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角，獲取完整且無陰影的分析結果。

基于成熟的 Gemini 技術

Gemini 鏡頭的設計結合考慮了電場與磁場對光學性能的影響，并將場對樣品的影響降至更低。這使得即使對磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
Gemini in-lens 的探測確保了信號探測的效率，通過二次檢測(SE)和背散射(BSE)元件同時減少成像時間。
Gemini 電子束加

用于清晰成像的靈活探測

利用新的探測技術表征所有的樣品。
在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測器獲取形貌和高分辨率的信息。
在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測器獲取銳利的圖像。
利用 aSTEM 探測器生成高分率透射圖像。
利用 BSD 或者 YAG 探測

配件

SmartEDX

為您帶來一體化能譜分析解決方案

如果單采用SEM成像技術無法全面了解部件或樣品，研究人員就需要在SEM中采用能譜儀（EDS）來進行顯微分析。通過針對低電壓應用而優(yōu)化的能譜解決方案，您可以獲得元素化學成分的空間分布信息。得益于：

優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應用，并且由于氮化硅窗口優(yōu)秀的透過率，可以探測輕元素的低能X射線。
工作流程引導的圖形用戶界面極大地改善了易用性，以及多用戶環(huán)境中的重復性。
完整的服務和系統(tǒng)支持，由蔡司工程師為您的安裝、預防性維護及保修提供一站式服務。

拉曼成像與掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

集成化的拉曼成像

在您的數(shù)據(jù)中加入拉曼光譜及成像結果，獲得材料更豐富的表征信息。通過擴展蔡司Sigma 300，使其具備共聚焦拉曼成像功能，您能夠獲得樣品中化學指紋信息，從而指認其成分。

識別分子和晶體結構信息
可進行3D分析，在需要時可關聯(lián)SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數(shù)據(jù)。
集成RISE讓您體驗由先進的SEM和拉曼系統(tǒng)帶來的優(yōu)勢。

用戶友好,操作簡單

SmartSEM Touch是現(xiàn)已有操作系統(tǒng)的附加組件，用于多用戶環(huán)境，是一種簡潔的用戶界面。

它同時為操作經(jīng)驗豐富的專家用戶和初級用戶提供了簡便的操作。

基于實際的實驗室環(huán)境，SEM的操作可能是電子顯微鏡專家的專屬領域。

但是，非專業(yè)用戶（例如學生，接受培訓不久的人員或質(zhì)量工程師）也需要使用SEM獲取數(shù)據(jù)，因此也有使用SEM的需求。 Sigma 300和Sigma 300 VP將非專業(yè)用戶的需求考慮在內(nèi)，其用戶界面選項可滿足操作經(jīng)驗豐富的顯微鏡專家和顯微鏡新手用戶的操作需求。